Process开放数据
ADP系统测试与质量控制（QC）
a3258025-7700-410b-a013-7f53ac525a94@01.01.000
引用
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天工 LCA 平台，数据集：ADP系统测试与质量控制（QC），版本 01.01.000，标识 a3258025-7700-410b-a013-7f53ac525a94@01.01.000，访问地址：https://portal.tiangong.earth/zh-CN/process/a3258025-7700-410b-a013-7f53ac525a94@01.01.000
记录信息
开放数据
- 来源中的名称
- 未提供
- 参考产品或流
- 自动数据处理设备，在同一机壳内至少包括一个中央处理单元和一个输入输出单元，无论是否组合在一起
- 数据提供方
- 天工LCA数据团队
范围与背景
开放数据
- 功能单位
- 1 kg
- 地区
- 由于工厂位置不明，本过程以GLO建模。若为中国情景，应采用中国电网/CLCD等电力清单以反映本地电力结构（参考Nie 2013；Shi等2018）。 · 范围未说明
- 参考年
- 2026
- 技术描述
- 在制造工厂生产的成品 ADP 机器系统（例如，配置为系统的系统单元），作为生产组合，通过将采购/自制的电子和机械子组件装配成经过测试并包装的成品，在工厂大门交付。; 对已装配的 ADP 系统单元进行功能测试、可能的老化（burn-in）以及质量控制。是否纳入由路线选项列表（功能测试 / 老化 / QC）以及包含将检验作为独立步骤的通用制造链示例所驱动（如所提供的 SI 示例中复合门组件先修边再检验）。; 该流表示工厂大门交付的制造成品（“Finished product, manufactured”），并建模为工厂层面的生产组合（“Production mix, at plant”）。; 制造过程以子组件的装配/集成为主，而非现场一次材料生产。; 上游电子元件制造在需要时可使用电子元件从摇篮到工厂大门（cradle-to-gate）来源进行替代/补充（例如，铝电解电容器）。
来源与可用性
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- 许可
- Free of charge for all users and uses
- 固定版本记录
- a3258025-7700-410b-a013-7f53ac525a94@01.01.000
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